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一次性使用无菌宫颈刮板产品描述:由木片、竹片等材料制成的片状器械,无菌提供。 一次性使用无菌宫颈刮板预期用途:用于获取宫颈表面的样本。 一次性使用无菌宫颈刮板品名举例:一次性使用无菌宫颈刮板 一次性使用无菌宫颈刮板管理类别:Ⅱ 刮宫片产品描述:由木片、竹片等材料制成的片状器械,非无菌提供。 刮宫片预期用途:暂无内容 ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年06月26日
检测项:导通态漏电流IDS(on) 检测样品:脉宽调制器 标准:半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
检测项:截止态漏极漏电流ID(off) 检测样品:脉宽调制器 标准:半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
检测项:截止态源极漏电流IS(off) 检测样品:脉宽调制器 标准:半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:导通态漏电流IDS 检测样品:V/F、F/V转换器 标准:《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器》 GB/T 14114-1993
检测项:截止态漏极漏电流ID 检测样品:V/F、F/V转换器 标准:《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器》 GB/T 14114-1993
检测项:截止态源极漏电流IS 检测样品:V/F、F/V转换器 标准:《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器》 GB/T 14114-1993
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:导通态漏电流IDS(on) 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:截止态漏极漏电流 ID(Off) 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:断态电流(ID) 检测样品:运算放大器 标准:GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》
检测项:导通态漏电流 IDS(on) 检测样品:电压基准 标准:SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范
检测项:截止态漏极漏电流ID(off) 检测样品:电压基准 标准:SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:导通态漏电流IDS(on ) 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:截止态漏级漏电流ID(off) 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:漏电流Id 检测样品:电感器 标准:GB/T16512-1996 电子设备用固定电感器总规范
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:导通态漏电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:截止态漏极漏电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:截止态源极漏电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:导通态漏电流 检测样品:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
检测项:截止态漏极漏电流 检测样品:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
检测项:截止态源极漏电流 检测样品:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:导通态漏电流 检测样品:集成电路A/D和D/A转换器 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006
检测项:截止态和导通态电流(对模拟信号开关电路) 检测样品:RF器件 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:截止态和导通态电流(对模拟信号开关电路) 检测样品:CMOS集成电路 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:导通态漏电流 检测样品:模拟集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
检测项:截止态漏极漏电流 检测样品:模拟集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
检测项:泄漏电流(性能特性) 检测样品:接地导通电阻测试仪 标准:SJ/T 11386-2008接地导通电阻测试仪通用规范
检测项:泄漏电流(安全性能) 检测样品:接地导通电阻测试仪 标准:SJ/T 11386-2008接地导通电阻测试仪通用规范
检测项:泄漏电流 检测样品:接地导通电阻测试仪 标准:SJ/T 11386-2008接地导通电阻测试仪通用规范
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>